IT之家 5 月 3 日消息 據(jù)中國科學院網(wǎng)站，基于大尺度高靈敏度的 CO 分子譜線巡天數(shù)據(jù)，中國科學院紫金山天文臺銀河畫卷科學團隊對內銀河系近 400 平方度的分子氣體展開分析。
通過對切點附近的分子云進行系統(tǒng)的認證和分析，清晰地描繪了一個分子氣體厚盤的存在，其厚度約 280pc。根據(jù)測量，內銀河系分子氣體厚盤的總質量達到 8.5x107 太陽質量，是該區(qū)域內銀盤分子氣體總質量的 10% 左右。
▲背景為銀河系 21cm（HI4PI 巡天）全天輻射，陰影部分表示標高為 85pc 和 280pc 的已知的分子氣體薄盤和新發(fā)現(xiàn)的分子厚盤。銀河畫卷巡天新確認的分子厚盤的厚度與原子氣體盤的厚度相當。分子氣體厚盤成分與原子氣體分布緊密相關 | 圖源：中國科學院網(wǎng)站
據(jù)介紹，觀測發(fā)現(xiàn)，分子厚盤由許多獨立、暗弱、非引力束縛的小尺寸分子云組成。新測量的分子厚盤的標高與此前已知的原子氣體盤的標高相當，盤內分子云的速度彌散與薄盤分子云相當。通過對這些分子云樣本進行分析后發(fā)現(xiàn)，云 - 云之間的速度彌散隨著銀心距的增加而系統(tǒng)性地減小。由此認為，分子氣體的分布受到不同銀心距處恒星形成活動的調制，厚盤的分子氣體可能起源于銀盤，盤面上恒星活動的劇烈物理過程造成分子氣體分布的脫偶。
IT之家了解到，相關研究成果發(fā)表在 ApJ 上。（論文鏈接：點此查看）
廣告聲明：文內含有的對外跳轉鏈接（包括不限于超鏈接、二維碼、口令等形式），用于傳遞更多信息，節(jié)省甄選時間，結果僅供參考，IT之家所有文章均包含本聲明。