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可減少昂貴 EUV 光刻使用,德國(guó)默克稱 DSA 自組裝技術(shù)十年內(nèi)商用

2024/2/5 10:22:48 來(lái)源:IT之家 作者:溯波(實(shí)習(xí)) 責(zé)編:汪淼

IT之家 2 月 5 日消息,德國(guó)默克公司高級(jí)副總裁 Anand Nambier 近日在新聞發(fā)布會(huì)上稱,未來(lái)十年 DSA 自組裝技術(shù)將實(shí)現(xiàn)商用化,可減少昂貴的 EUV 圖案化次數(shù),成為現(xiàn)有光刻技術(shù)的重要補(bǔ)充。

IT之家注:DSA 全稱為 Directed self-assembly,其利用嵌段共聚物的表面特征實(shí)現(xiàn)周期性圖案的自動(dòng)構(gòu)造,在此基礎(chǔ)上加以誘導(dǎo),最終形成方向可控的所需圖案。一般認(rèn)為,DSA 不適合作為一項(xiàng)獨(dú)立的圖案化技術(shù)使用,而是與其他圖案化技術(shù)(如傳統(tǒng)光刻)結(jié)合來(lái)生產(chǎn)高精度半導(dǎo)體。

Anand Nambier 在發(fā)布會(huì)上

▲ Anand Nambier 在發(fā)布會(huì)上。圖源 The Elec

Anand Nambiar 表示:“DSA 技術(shù)正處于起步階段,我們相信它將在未來(lái)十年內(nèi)成為 EUV 光刻生產(chǎn)中的一項(xiàng)基本技術(shù)。由于 EUV 技術(shù)的使用成本較高,客戶希望減少使用 EUV 的步驟數(shù)量。我們正在與全球主要半導(dǎo)體公司開(kāi)展 DSA 研究合作?!睋?jù)韓媒 The Elec 了解,三星電子和 SK 海力士等使用 EUV 光刻的公司都參與了相關(guān)研究。

DSA 在 EUV 的主要應(yīng)用是補(bǔ)償 EUV 的隨機(jī)誤差。隨機(jī)誤差占 EUV 工藝整體圖案化誤差中的 50%。

不過(guò),DSA 要商業(yè)化大規(guī)模應(yīng)用,還需要減少其本身導(dǎo)致的問(wèn)題。目前,在使用 DSA 生成圖案的過(guò)程中,會(huì)出現(xiàn)氣泡、橋和簇等類型的缺陷。其中,橋型缺陷最為常見(jiàn)。

DSA 技術(shù)缺陷產(chǎn)生情況

▲ DSA 技術(shù)缺陷產(chǎn)生情況。圖源 imec

根據(jù)分析機(jī)構(gòu) TechInsights 去年 1 月公布的數(shù)據(jù),三星擁有 68 項(xiàng) DSA 相關(guān)專利,而臺(tái)積電和 ASML 分別持有 24 和 16 項(xiàng)。

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關(guān)鍵詞:光刻,EUV晶圓,芯片DSA,德國(guó)默克

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